Fabrication, Performance and Reliability of a Thermally Enhanced Wafer Level Fan Out Demonstrator with Integrated Heatsink

Cardoso, André Gil; Barros, Hugo; Hantos, Gusztav [Hantos, Gusztáv (mikroelektronika), szerző] Elektronikus Eszközök Tanszéke (BME / VIK)

Angol nyelvű Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) Tudományos
Megjelent: András Poppe. 2016 22nd International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'16). (2016) ISBN:9781509054503 pp. 336-344
    Azonosítók
    Idézők (2)
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2026-04-13 10:04