mtmt
Magyar Tudományos Művek Tára
XML
JSON
Átlépés a keresőbe
In English
Idézők
/
Idézések
Reliability Tests on SAC-xMn Solder Alloys
Szurdan, Szabolcs
;
Medgyes, Balint [Medgyes, Bálint (Elektrokémiai mig...), szerző] Elektronikai Technológia Tanszék (BME / VIK)
;
Mende, Tamas [Mende, Tamás (Anyagtudomány), szerző] Fémtani, Képlékenyalakítási és Nanotechnológiai... (ME / AVK)
;
Berenyi, Richard [Berényi, Richárd (Lézeres mikromegm...), szerző] Elektronikai Technológia Tanszék (BME / VIK)
;
Gal, Laszlo [Gál, László (Elektronikai tech...), szerző] Elektronikai Technológia Tanszék (BME / VIK)
;
Harsanyi, Gabor [Harsányi, Gábor (Elektronikai tech...), szerző] Elektronikai Technológia Tanszék (BME / VIK)
Angol nyelvű Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) Tudományos
Megjelent:
Chindris Gabriel. 2019 IEEE 25th International Symposium for Design and Technology in Electronic Packaging (SIITME). (2019) ISBN:9781728133300
pp. 34-37
Paper: 8990729
Azonosítók
MTMT: 31177406
DOI:
10.1109/SIITME47687.2019.8990729
WoS:
000564733700004
Scopus:
85080116176
Egyéb URL:
https://ieeexplore.ieee.org/document/8990729/
Idézők (1)
Idézett közlemények (2)
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
CSL
Másolás
Nyomtatás
2026-04-13 13:51
×
Lista exportálása irodalomjegyzékként
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Nyomtatás
Másolás