Grating coupled optical waveguide interferometry combined with in situ spectroscopic ellipsometry to monitor surface processes in aqueous solutions

Agocs, Emil [Agócs, Emil (Ellipszometria), author] Institute of Technical Physics and Materials Sc...; Fotonika Laboratórium (MFA); Kozma, Peter [Kozma, Péter Dániel (Szenzorika), author] Fotonika Laboratórium (MFA); Nador, Judit [Nádor, Judit (nanobioszenzorika), author] Fotonika Laboratórium (MFA); Hamori, Andras [Hámori, András (Optika), author] Fotonika Laboratórium (MFA); Janosov, Milan [Janosov, Milán (Fizika, hálózattu...), author]; Kalas, Benjamin [Kalas, Benjamin (Ellipszometria), author] Fotonika Laboratórium (MFA); Kurunczi, Sandor [Kurunczi, Sándor (Bioszenzorika), author] Fotonika Laboratórium (MFA); Fodor, Balint [Fodor, Bálint (anyagtudomány, el...), author] Doctoral School of Physics (UP / DS); Fotonika Laboratórium (MFA); Ehrentreich-Förster, Eva; Fried, Miklos [Fried, Miklós (Szilárdtestfizika), author] Fotonika Laboratórium (MFA); Horvath, Robert [Horváth, Róbert (Bioszenzorok), author] Lendület Nanobioszenzorika Kutatócsoport (MFA); Fotonika Laboratórium (MFA); Petrik, Peter [Petrik, Péter (Funkcionális anya...), author] Fotonika Laboratórium (MFA)

English Article (Journal Article) Scientific
Published: APPLIED SURFACE SCIENCE 0169-4332 1873-5584 421 (Part B) pp. 289-294 2017
  • X. Földtudományok Osztálya: A
  • SJR Scopus - Surfaces, Coatings and Films: Q1
Identifiers
Subjects:
  • Materials Processes
  • Physical sciences
  • Chemical sciences
Citation styles: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLCopyPrint
2026-03-08 14:26