mtmt
The Hungarian Scientific Bibliography
XML
JSON
Public search
Magyarul
Citations
/
Citings
Grating coupled optical waveguide interferometry combined with in situ spectroscopic ellipsometry to monitor surface processes in aqueous solutions
Agocs, Emil [Agócs, Emil (Ellipszometria), author] Institute of Technical Physics and Materials Sc...; Fotonika Laboratórium (MFA)
;
Kozma, Peter [Kozma, Péter Dániel (Szenzorika), author] Fotonika Laboratórium (MFA)
;
Nador, Judit [Nádor, Judit (nanobioszenzorika), author] Fotonika Laboratórium (MFA)
;
Hamori, Andras [Hámori, András (Optika), author] Fotonika Laboratórium (MFA)
;
Janosov, Milan [Janosov, Milán (Fizika, hálózattu...), author]
;
Kalas, Benjamin [Kalas, Benjamin (Ellipszometria), author] Fotonika Laboratórium (MFA)
;
Kurunczi, Sandor [Kurunczi, Sándor (Bioszenzorika), author] Fotonika Laboratórium (MFA)
;
Fodor, Balint [Fodor, Bálint (anyagtudomány, el...), author] Doctoral School of Physics (UP / DS); Fotonika Laboratórium (MFA)
;
Ehrentreich-Förster, Eva
;
Fried, Miklos [Fried, Miklós (Szilárdtestfizika), author] Fotonika Laboratórium (MFA)
;
Horvath, Robert [Horváth, Róbert (Bioszenzorok), author] Lendület Nanobioszenzorika Kutatócsoport (MFA); Fotonika Laboratórium (MFA)
;
Petrik, Peter [Petrik, Péter (Funkcionális anya...), author] Fotonika Laboratórium (MFA)
English Article (Journal Article) Scientific
Published:
APPLIED SURFACE SCIENCE 0169-4332 1873-5584
421
(Part B)
pp. 289-294
2017
X. Földtudományok Osztálya: A
SJR Scopus - Surfaces, Coatings and Films: Q1
Identifiers
MTMT: 3104095
DOI:
10.1016/j.apsusc.2016.07.166
REAL:
39204
WoS:
000408756700005
Scopus:
84996536649
Google scholar:
6598954193530097618
Subjects:
Materials Processes
Physical sciences
Chemical sciences
Cited in (11)
Citing (13)
Citation styles:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
CSL
Copy
Print
2026-03-08 14:26
×
Export list as bibliography
Citation styles:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Print
Copy