Grating coupled optical waveguide interferometry combined with in situ spectroscopic ellipsometry to monitor surface processes in aqueous solutions

Agocs, Emil [Agócs, Emil (Ellipszometria), szerző] Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet (HUN-REN EK); Fotonika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA); Kozma, Peter [Kozma, Péter Dániel (Szenzorika), szerző] Fotonika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA); Nador, Judit [Nádor, Judit (nanobioszenzorika), szerző] Fotonika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA); Hamori, Andras [Hámori, András (Optika), szerző] Fotonika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA); Janosov, Milan [Janosov, Milán (Fizika, hálózattu...), szerző]; Kalas, Benjamin [Kalas, Benjamin (Ellipszometria), szerző] Fotonika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA); Kurunczi, Sandor [Kurunczi, Sándor (Bioszenzorika), szerző] Fotonika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA); Fodor, Balint [Fodor, Bálint (anyagtudomány, el...), szerző] Fizika Doktori Iskola (PTE / DI); Fotonika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA); Ehrentreich-Förster, Eva; Fried, Miklos [Fried, Miklós (Szilárdtestfizika), szerző] Fotonika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA); Horvath, Robert [Horváth, Róbert (Bioszenzorok), szerző] Lendület Nanobioszenzorika Kutatócsoport (HUN-REN EK / MFA); Fotonika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA); Petrik, Peter [Petrik, Péter (Funkcionális anya...), szerző] Fotonika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA)

Angol nyelvű Szakcikk (Folyóiratcikk) Tudományos
Megjelent: APPLIED SURFACE SCIENCE 0169-4332 1873-5584 421 (Part B) pp. 289-294 2017
  • X. Földtudományok Osztálya: A
  • SJR Scopus - Surfaces, Coatings and Films: Q1
Azonosítók
Szakterületek:
  • Anyagtudományi / Anyagtechnológiai folyamatok
  • Fizika
  • Kémiai tudományok
Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
2026-02-13 10:50