mtmt
Magyar Tudományos Művek Tára
XML
JSON
Átlépés a keresőbe
In English
Idézők
/
Idézések
Grating coupled optical waveguide interferometry combined with in situ spectroscopic ellipsometry to monitor surface processes in aqueous solutions
Agocs, Emil [Agócs, Emil (Ellipszometria), szerző] Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet (HUN-REN EK); Fotonika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA)
;
Kozma, Peter [Kozma, Péter Dániel (Szenzorika), szerző] Fotonika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA)
;
Nador, Judit [Nádor, Judit (nanobioszenzorika), szerző] Fotonika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA)
;
Hamori, Andras [Hámori, András (Optika), szerző] Fotonika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA)
;
Janosov, Milan [Janosov, Milán (Fizika, hálózattu...), szerző]
;
Kalas, Benjamin [Kalas, Benjamin (Ellipszometria), szerző] Fotonika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA)
;
Kurunczi, Sandor [Kurunczi, Sándor (Bioszenzorika), szerző] Fotonika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA)
;
Fodor, Balint [Fodor, Bálint (anyagtudomány, el...), szerző] Fizika Doktori Iskola (PTE / DI); Fotonika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA)
;
Ehrentreich-Förster, Eva
;
Fried, Miklos [Fried, Miklós (Szilárdtestfizika), szerző] Fotonika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA)
;
Horvath, Robert [Horváth, Róbert (Bioszenzorok), szerző] Lendület Nanobioszenzorika Kutatócsoport (HUN-REN EK / MFA); Fotonika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA)
;
Petrik, Peter [Petrik, Péter (Funkcionális anya...), szerző] Fotonika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA)
Angol nyelvű Szakcikk (Folyóiratcikk) Tudományos
Megjelent:
APPLIED SURFACE SCIENCE 0169-4332 1873-5584
421
(Part B)
pp. 289-294
2017
X. Földtudományok Osztálya: A
SJR Scopus - Surfaces, Coatings and Films: Q1
Azonosítók
MTMT: 3104095
DOI:
10.1016/j.apsusc.2016.07.166
REAL:
39204
WoS:
000408756700005
Scopus:
84996536649
Google scholar:
6598954193530097618
Szakterületek:
Anyagtudományi / Anyagtechnológiai folyamatok
Fizika
Kémiai tudományok
Idézők (10)
Idézett közlemények (13)
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
CSL
Másolás
Nyomtatás
2026-02-13 10:50
×
Lista exportálása irodalomjegyzékként
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Nyomtatás
Másolás