Artifacts analysis in localization based microscopy

Dániel, Varga [Varga, Dániel (nagyfeloldású mik...), szerző]; József, Sinkó [Sinkó, József (Optika), szerző] Optikai és Kvantumelektronikai Tanszék (SZTE / TTIK / FTCS); Tamás, Gajdos [Gajdos, Tamás (Fizika), szerző] Optikai és Kvantumelektronikai Tanszék (SZTE / TTIK / FTCS); Gábor, Szabó [Szabó, Gábor (Kvantumelektronika), szerző] MTA-SZTE Fotoakusztikus Kutatócsoport (SZTE / TTIK / FTCS / OKET); Miklós, Erdélyi [Erdélyi, Miklós (Optika, mikroszkópia), szerző] Optikai és Kvantumelektronikai Tanszék (SZTE / TTIK / FTCS)

Angol nyelvű Tudományos Nem besorolt (Egyéb)
Megjelent: 2016
    Szakterületek:
      Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
      2021-10-17 21:34