Optical and Infrared Interferometry and Imaging V

Malbet, F [szerk.]; Creech-Eakman, MJ [szerk.]; Tuthill, PG [szerk.]

Angol nyelvű Konferenciakötet (Könyv) Tudományos
Megjelent: International Society for Optical Engineering (SPIE), Bellingham (WA), Amerikai Egyesült Államok 2016
Konferencia: Optical and Infrared Interferometry and Imaging V 2016-06-27 [Edinburgh, Egyesült Királyság / Skócia]
Sorozatok: Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 9907
    Azonosítók
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2025-04-11 02:21