mtmtMagyar Tudományos Művek Tára

XML JSON Átlépés a keresőbe In English

Medical Imaging 2016: Image processing

Styner, MA [szerk.]; Angelini, ED [szerk.]

Angol nyelvű Konferenciakötet (Könyv) Tudományos

Megjelent: SPIE, Bellingham (WA), Amerikai Egyesült Államok 2016

Konferencia: Medical Imaging 2016: Image processing 2016-03-01 [San Diego (CA), Amerikai Egyesült Államok]

Sorozatok: SPIE Proceedings 0277-786X, 9784

Azonosítók

MTMT: 30274131
ISBN: 9781510600195

Fejezetek

Andreasen D. et al. Computed tomography synthesis from magnetic resonance images in the pelvis using multiple random forests and auto-context features. (2016) Megjelent: PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING
Dong Chunhua et al. A framework for probabilistic atlas-based organ segmentation. (2016) Megjelent: PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING
Li Lin et al. Multi-modality registration via multi-scale textural and spectral embedding representations. (2016) Megjelent: MEDICAL IMAGING 2016: IMAGE PROCESSING
Mastmeyer A. et al. Random forest classification of large volume structures for visuo-haptic rendering in CT images. (2016) Megjelent: PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING
Tizhoosh H. et al. Anatomy-Aware Measurement of Segmentation Accuracy. (2016) Megjelent: MEDICAL IMAGING 2016: IMAGE PROCESSING
Varnousfaderani Ehsan et al. Geodesic Denoising for Optical Coherence Tomography Images. (2016) Megjelent: MEDICAL IMAGING 2016: IMAGE PROCESSING
Xie Hua et al. An Adaptive Undersampling Scheme of Wavelet-Encoded Parallel MR Imaging for More Efficient MR Data Acquisition. (2016) Megjelent: MEDICAL IMAGING 2016: IMAGE PROCESSING
Xie Z. et al. Patch forest: A hybrid framework of random forest and patch-based segmentation. (2016) Megjelent: PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago Harvard CSLMásolásNyomtatás

2025-04-11 17:22

×

Lista exportálása irodalomjegyzékként

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago HarvardNyomtatásMásolás