P SOC PHOTO-OPT INS

Nguyen, C [szerk.]

Angol nyelvű Konferenciakötet (Könyv) Tudományos

Megjelent: International Society for Optical Engineering (SPIE), Bellingham (WA), Amerikai Egyesült Államok 2000

Sorozatok: Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 4129

Azonosítók

MTMT: 30193335
ISBN: 0819437743

Fejezetek

Terpugov EL et al. Investigation of thin films using Fourier transform infrared emission spectroscopy.. (2000) Megjelent: P SOC PHOTO-OPT INS pp. 659-665

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago Harvard CSLMásolásNyomtatás

2025-04-17 01:16