mtmtMagyar Tudományos Művek Tára

XML JSON Átlépés a keresőbe In English

Three-dimensional imaging and laser-based systems for metrology and inspection III

Harding, Kevin G [szerk.]; Svetkoff, Donald J [szerk.]

Angol nyelvű Konferenciakötet (Könyv) Tudományos

Megjelent: International Society for Optical Engineering (SPIE), Bellingham (WA), Amerikai Egyesült Államok, 218 p. 1997

Konferencia: Three-dimensional imaging and laser-based systems for metrology and inspection III 1997-10-14 [Pittsburgh (PA), Amerikai Egyesült Államok]

Sorozatok: Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 3204

Azonosítók

MTMT: 30164496
ISBN: 0819426369

Fejezetek

Chan V et al. Automating laser scanning of 3-D surfaces for reverse engineering. (1997) Megjelent: Three-dimensional imaging and laser-based systems for metrology and inspection III pp. 156-164
Chan V et al. Extraction of features from 3-D laser scanner cloud data. (1997) Megjelent: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering pp. 185-191

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago Harvard CSLMásolásNyomtatás

2025-04-11 13:08

×

Lista exportálása irodalomjegyzékként

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago HarvardNyomtatásMásolás