mtmt
Magyar Tudományos Művek Tára
XML
JSON
Átlépés a keresőbe
In English
SCANNING MICROSCOPY 2010
Postek, MT [szerk.]
;
Newbury, DE [szerk.]
;
Platek, SF [szerk.]
;
Joy, DC [szerk.]
Angol nyelvű Tudományos
Megjelent:
2010
Konferencia:
SCANNING MICROSCOPY 2010 2010-05-17 [Monterey (CA), Amerikai Egyesült Államok]
Sorozatok:
Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 7729
Azonosítók
MTMT: 30157702
Fejezetek
Ohya K et al. Modeling of charging effects in scanning ion microscopes. (2010) Megjelent: SCANNING MICROSCOPY 2010
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
CSL
Másolás
Nyomtatás
2025-04-28 10:14
×
Lista exportálása irodalomjegyzékként
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Nyomtatás
Másolás