Reliability, testing, and characterization of MEMS, 2003

Ramesham, Rajeshuni [szerk.]; Tanner, Danelle M [szerk.]

Angol nyelvű Konferenciakötet (Könyv) Tudományos
Megjelent: SPIE, Bellingham (WA), Amerikai Egyesült Államok 2003
Konferencia: Reliability, testing, and characterization of MEMS, 2003 2003-01-27 [San Jose (CA), Amerikai Egyesült Államok]
Sorozatok: Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 4980
    Azonosítók
    Szakterületek:
    • Műszaki és technológiai tudományok
    Fejezetek
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2025-04-11 19:23