mtmtMagyar Tudományos Művek Tára

XML JSON Átlépés a keresőbe In English

OPTICAL MEASUREMENT SYSTEMS FOR INDUSTRIAL INSPECTION III

Osten, W Creath K Kujawinska M [szerk.]; Osten, W [szerk.]; Creath, K [szerk.]; Kujawinska, M [szerk.]

Angol nyelvű Konferenciakötet (Könyv) Tudományos

Megjelent: SPIE 2003

Konferencia: Optical Measurement Systems for Industrial Inspection III 2003-06-23 [Munich, Németország]

Sorozatok: Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 5144

Azonosítók

MTMT: 30148704
ISBN: 9780819450142

Fejezetek

Papp Z et al. New methods in recording and reconstruction digital holograms. (2003) Megjelent: OPTICAL MEASUREMENT SYSTEMS FOR INDUSTRIAL INSPECTION III pp. 170-174
Gombkoto B et al. Difference displacement measurement using digital holograms as coherent masks. (2003) Megjelent: OPTICAL MEASUREMENT SYSTEMS FOR INDUSTRIAL INSPECTION III pp. 578-584

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago Harvard CSLMásolásNyomtatás

2025-04-11 11:54

×

Lista exportálása irodalomjegyzékként

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago HarvardNyomtatásMásolás