Two- and Three-Dimensional Methods for Inspection and Metrology III

Angol nyelvű Tudományos

Megjelent: SPIE, Boston (MA), Amerikai Egyesült Államok 2005

Konferencia: Two- and Three-Dimensional Methods for Inspection and Metrology III 2005-10-24 [Boston, Nemzetközi]

Sorozatok: Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 6000

Azonosítók

MTMT: 30132871

Fejezetek

Wu F et al. 3D method via time and spatially multiplexed confocal microscope. (2005) Megjelent: Two- and Three-Dimensional Methods for Inspection and Metrology III

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago Harvard CSLMásolásNyomtatás

2025-04-17 11:13