mtmt
Magyar Tudományos Művek Tára
XML
JSON
Átlépés a keresőbe
In English
Advances in X-Ray Free-Electron Lasers II: Instrumentation
Tschentscher, Thomas [szerk.]
;
Tiedtke, Kai [szerk.]
Angol nyelvű Konferenciakötet (Könyv) Tudományos
Megjelent: International Society for Optical Engineering (SPIE), Bellingham (WA), Amerikai Egyesült Államok
2013
Konferencia:
Conference on Advances in X-ray Free-Electron Lasers II: Instrumentation 2013-04-17 [Prague, Csehország]
Sorozatok:
Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 8778
Azonosítók
MTMT: 30117432
ISBN:
9780819495808
Fejezetek
Hoppe R et al. Full characterization of a focused wavefield with sub 100 nm resolution. (2013) Megjelent: Advances in X-Ray Free-Electron Lasers II: Instrumentation
Richter Mathias et al. The impact of pulse duration on multiphoton ionization in the soft X-ray regime. (2013) Megjelent: Advances in X-Ray Free-Electron Lasers II: Instrumentation
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
CSL
Másolás
Nyomtatás
2025-04-17 09:11
×
Lista exportálása irodalomjegyzékként
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Nyomtatás
Másolás