Eighth International Symposium on Laser Metrology: MACRO-, MICRO-, AND NANO-TECHNOLOGIES APPLIED IN SCIENCE, ENGINEERING, AND INDUSTRY

Angol nyelvű Tudományos
Megjelent: 2005
Konferencia: Eighth International Symposium on Laser Metrology: MACRO-, MICRO-, AND NANO-TECHNOLOGIES APPLIED IN SCIENCE, ENGINEERING, AND INDUSTRY 2005-02-14 [Merida, Mexikó]
Sorozatok: Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 5776
    Azonosítók
    • MTMT: 30069207
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2025-04-28 07:46