International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics

Anon, A [szerk.]

Angol nyelvű Konferenciakötet (Könyv) Tudományos
Megjelent: SPIE, New York, Amerikai Egyesült Államok 2003
Konferencia: International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 2003-09-02 [Moscow, Oroszország]
Sorozatok: Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 5024
    Azonosítók
    • MTMT: 30066216
    Fejezetek
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2025-04-11 21:51