DESIGN, CHARACTERIZATION, AND PACKAGING FOR MEMS AND MICROELECTRONICS

Angol nyelvű Konferenciakötet (Könyv) Tudományos
Megjelent: International Society for Optical Engineering (SPIE), Washington DC, Amerikai Egyesült Államok, Bellingham (WA), Amerikai Egyesült Államok 1999
Konferencia: Design, Characterization, and Packaging for MEMS and Microelectronics 1999-10-27 [Gold Coast, Ausztrália]
Sorozatok: Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 3893
    Azonosítók
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2025-04-14 20:27