mtmtMagyar Tudományos Művek Tára

XML JSON Átlépés a keresőbe In English

Proceedings of the 4th International Conference on Material Sience and Material Properties for Infrared Optoelectronics

Angol nyelvű Tudományos

Megjelent: Society for Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE) 1999

Konferencia: 4th International Conference on Material Sience and Material Properties for Infrared Optoelectronics 1998-09-29 [Kiev, Ukrajna]

Sorozatok: Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 3890

Azonosítók

MTMT: 2961697

Fejezetek

Kikineshi Alexander et al. Material dispersion in (As2S3)x(AsI3)1-x glasses. (1999) Megjelent: Proceedings of the 4th International Conference on Material Sience and Material Properties for Infrared Optoelectronics pp. 502-506
Dovgoshey NI et al. Thermodiffusion in Si-X-Ge33As12Se55 (X: Sb, Bi) interface. (1999) Megjelent: Proceedings of the 4th International Conference on Material Sience and Material Properties for Infrared Optoelectronics pp. 512-518

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago Harvard CSLMásolásNyomtatás

2025-04-14 21:08

×

Lista exportálása irodalomjegyzékként

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago HarvardNyomtatásMásolás