mtmt
Magyar Tudományos Művek Tára
XML
JSON
Átlépés a keresőbe
In English
Design, Test and Microfabrication of MEMS and MOEMS
Courtois, B [szerk.]
Angol nyelvű Konferenciakötet (Könyv) Tudományos
Megjelent: International Society for Optical Engineering (SPIE), Bellingham (WA), Amerikai Egyesült Államok
1999
Konferencia:
DESIGN, TEST, AND MICROFABRICATION OF MEMS AND MOEMS, PTS 1 AND 2 1999-03-30 [Paris, Franciaország]
Sorozatok:
Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 3680
Azonosítók
MTMT: 29204
ISBN:
0819431540
Fejezetek
Kerkhoff HG. Testing philosophy behind the micro analysis system. (1999) Megjelent: Design, Test and Microfabrication of MEMS and MOEMS pp. 78-83
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
CSL
Másolás
Nyomtatás
2025-04-17 01:47
×
Lista exportálása irodalomjegyzékként
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Nyomtatás
Másolás