Improving histogram test using a fast sine fit algorithm

Vilmos, Pálfi [Pálfi, Vilmos (Jelfeldolgozás), szerző] Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék (BME / VIK); István, Kollár [Kollár, István (Jelfeldolgozás), szerző] Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék (BME / VIK)

Angol nyelvű Tudományos Konferenciaközlemény (Könyvrészlet)
    Azonosítók
    To accurately characterize an ADC using the sinewave histogram test the input signal has to meet strict conditions: sampling has to be coherent, and the number of periods has to be relative prime to the number of samples. Due to the limitations in the precision of the sine and sampling frequency, such conditions can be checked only from the measured signal. In this paper a new method is presented which is able to determine the meeting of above conditions, and if the signal fails to do so, it can determine the number of samples to be neglected in the measurement to improve the precision of the histogram test result.
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2021-04-22 17:16