Comparison of JEDEC Dynamic and Static Test Methods for Thermal Characterization of Power LEDs

Andras, Vass-Varnai [Vass-Várnai, András (villamosmérnöki t...), szerző] Elektronikus Eszközök Tanszéke (BME / VIK); John, Parry; Gergely, Toth; Sandor, Ress [Ress, Sándor László (Elektronikus Eszk...), szerző] Elektronikus Eszközök Tanszéke (BME / VIK); Gabor, Farkas [Farkas, Gábor (Elektronikus eszk...), szerző] Elektronikus Eszközök Tanszéke (BME / VIK); Andras, Poppe [Poppe, András (Mikroelektronika), szerző] Elektronikus Eszközök Tanszéke (BME / VIK); Marta, Rencz [Kerecsen Istvánné Rencz, Márta (Mikroelektronika), szerző] Elektronikus Eszközök Tanszéke (BME / VIK)

Angol nyelvű Tudományos Konferenciaközlemény (Könyvrészlet)
    In this paper we review the history of the static (continuous) and dynamic (pulsed) test methods described in JEDEC JESD51-1. Written in 1995, there has not been, to date and to the knowledge of the authors, any systematic review to these different approaches to the transient thermal testing of packaged ICs and LEDs. Commercially available and in-house test equipment perform either transient thermal testing according to one approach or the other, but not both.
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2021-03-05 05:50