Statistical analysis of defect removal effectiveness to improve the software quality and reducing the estimated cost

Marandi, AK; Khan, DA

Angol nyelvű Tudományos Konferenciaközlemény (Könyvrészlet)
    Azonosítók
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2021-05-17 15:50