Fast calculation of probe's transient response to pulsed eddy-current for inspection of multi-layered conductive structures

Zhang, Y -H; Sun, H -X; Luo, F -L

Kínai nyelvű Tudományos Szakcikk (Folyóiratcikk)
  • SJR Scopus - Electrical and Electronic Engineering: Q2
Azonosítók
Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
2021-05-14 14:55