Simulation analysis of effects of pulsed eddy current parameters on metal thickness measurement

Wu, X; Xie, J; Shi, K; He, D

Kínai nyelvű
    Azonosítók
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2021-05-14 15:57