Survey of neon and argon emission between 3800 angstrom and 6000 angstrom in the EBIT-II electron beam ion trap

Chen, H; Beiersdorfer, P; Harris, CL; Utter, SB

Angol nyelvű Tudományos
Megjelent: PHYSICA SCRIPTA 0031-8949 1402-4896 65 (3) pp. 252-256 2002
    Azonosítók
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2021-10-18 00:09