Elemental analysis of silicon based minerals by ultrasonic slurry sampling electrothermal vaporization ICP-MS.

Rodriguez, Pablo Fernandez; Marchante-Gayon, Juan Manuel; Sanz-Medel, Alfredo

Angol nyelvű

Megjelent: TALANTA 0039-9140 68 (3) pp. 869-875 2006

Azonosítók

MTMT: 22396483
DOI: 10.1016/j.talanta.2005.06.006
WoS: 000234955400056
Scopus: 30144446117
PubMed: 18970403

Idézett közlemények (1)

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago Harvard CSLMásolásNyomtatás

2021-02-28 20:52