mtmt
Magyar Tudományos Művek Tára
XML
JSON
Átlépés a keresőbe
In English
Idézők
/
Idézések
Determination of structural parameters characterizing thin films by optical methods: A comparison between scanning angle reflectometry and optical waveguide lightmode spectroscopy
Picart, C
;
Ladam, G
;
Senger, B
;
Voegel, JC
;
Schaaf, P
;
Cuisinier, FJG
;
Gergely, C [Gergely, Csilla (Biofizika), szerző] Biofizikai Intézet (HRN SZBK)
Angol nyelvű Szakcikk (Folyóiratcikk) Tudományos
Megjelent:
JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS 0021-9606 1089-7690
115
pp. 1086-1094
2001
SJR Scopus - Medicine (miscellaneous): D1
Azonosítók
MTMT: 1912095
DOI:
10.1063/1.1375156
WoS:
000169660700061
Szakterületek:
Fizika
Idézők (125)
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
CSL
Másolás
Nyomtatás
2026-06-16 20:51
×
Lista exportálása irodalomjegyzékként
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Nyomtatás
Másolás