Electron Diffraction Based Analysis of Phase Fractions and Texture in Nanocrystalline Thin Films, Part II: Implementation

Lábár, JL [Lábár, János (Szilárdtest fizika), szerző] MTA KFKI Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kuta...

Angol nyelvű Tudományos Szakcikk (Folyóiratcikk)
Megjelent: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 1431-9276 1435-8115 15 (1) pp. 20-29 2009
  • SJR Scopus - Instrumentation: Q3
Azonosítók
Szakterületek:
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2021-10-16 16:54