New challenges in Rutherford backscattering spectrometric (RBS) analysis of nanostructured thin films

Simon, A [Simon, Alíz (Ionnyaláb analitika), szerző]; Kántor, Z [Kántor, Zoltán (Lézerek tudományo...), szerző] MTA-SZTE Lézerfizikai Kutatócsoport (SZTE / TTK / FTCS / OKT)

Angol nyelvű Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) Tudományos
Megjelent: Vajtai R. Nanotechnology. (2003) ISBN:0819449784 p. 179
    Azonosítók
    Idézők (1)
    Idézett közlemények (6)
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2025-04-26 20:36