Tarnay K. et al. Interaktív kisszámítógépes elektronikai tervezőrendszer. (1978) Megjelent: Programozási Rendszerek '78 Konferencia előadásai pp. 534-541, 2608909
Egyéb konferenciaközlemény/Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény)/Tudományos[2608909]
  1. Hamza Gy. A "papír-ceruza" módszertől a számítógépes modellekig. (1982) FINOMMECHANIKA MIKROTECHNIKA 0231-2662 21 26-33
    Folyóiratcikk[23902177] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 23902177, Kapcsolat: 23902177
Tarnay Kálmán et al. Circuit Simulation Program Oriented Physical Modelling of Integrated Circuit Elements. (1980) PERIODICA POLYTECHNICA-ELECTRICAL ENGINEERING 0324-6000 1587-3781 2064-5260 2064-5279 24 1-2 37-45, 2607017
Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[2607017]
  1. G Paasch et al. A modified local density approximation. (1982) PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC RESEARCH 0370-1972 1521-3951 118 165-178
    Folyóiratcikk[23892809] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 23892809, Kapcsolat: 23892809
Székely V. A TRANZ-TRAN áramkör-szimulációs program új szolgáltatásai. (1981) MÉRÉS ÉS AUTOMATIKA 0025-9993 XXIX 12 465-468, 2608917
Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[2608917]
  1. B Kékesi. Production-biological evaluation of livestock on large-scale farms by veterinary means. 6. Population diagnostic work. The position and role of veterinary information in the production organization of livestock on large-scale farms and its mathematical models. (1981) MAGYAR ÁLLATORVOSOK LAPJA 0025-004X 36 1 23-29
    Folyóiratcikk[23902180] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 23902180, Kapcsolat: 23902180
  2. Jávor A. A MICAD mikroelektronikai számítógépes tervezõrendszer kialakításának fõbb szempontjai. (1981) MÉRÉS ÉS AUTOMATIKA 0025-9993 29 12 448-450
    Folyóiratcikk[23902179] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 23902179, Kapcsolat: 23902179
Poppe András et al. A general CAD concept and design framework architecture for integrated microsystems. (1995) Megjelent: Simulation and Design of Microsystems and Microstructures pp. 259-266, 29053
Könyvrészlet/Konferenciaközlemény (Könyvrészlet)/Tudományos[29053]
  1. Carmona M et al. Modelling of microsystems with analog hardware description languages. (1999) SENSORS AND ACTUATORS A-PHYSICAL 0924-4247 76 1-3 32-42
    Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[26505902] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 26505902, Kapcsolat: 26505902
  2. Bartlomiej F. Methodology for the Modeling and Simulation of Microsystems. (1998) ISBN:0792383060
    Könyv[24115089] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 24115089, Kapcsolat: 24115089
  3. Romanovicz. Methodology for modeling & simulation of microsystems. (1998)
    Könyv[11400452] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 11400452, Kapcsolat: 11400452
  4. Hoffmann Klaus et al. Generation of the HDL-A model of a micromembrane from its finite-element description. (1997) Megjelent: Proceedings of the European Design and Test Conference (ED&TC'97) pp. 108-112
    Könyvrészlet/Konferenciaközlemény (Könyvrészlet)/Tudományos[11400448] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 11400448, Kapcsolat: 11400448
  5. D Esteve. BARMINT - Basic Research for Microsystems Integration. (1997) ISBN:2854284658
    Könyv[23892040] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 23892040, Kapcsolat: 24115088
Székely Vladimír et al. Thermal Test and Monitoring. (1995) Megjelent: Proceedings of The European Design and Test Conference p. 601, 2670966
Könyvrészlet/Konferenciaközlemény (Könyvrészlet)/Tudományos[2670966]
  1. Arabi K. Integrated temperature sensors for on-line thermal monitoring of microelectronic structures. (1998) JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS 0923-8174 1573-0727 12 1-2 93-99
    Folyóiratcikk[24028637] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 24028637, Kapcsolat: 24028637
V Székely et al. A New Approach: Design for Thermal Testability (DfTT) of MCMs. (1995) Megjelent: Proceedings of Advanced Technology Workshop on MCM Test II pp. 1-3, 2608937
Egyéb konferenciaközlemény/Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény)/Tudományos[2608937]
  1. S A Bota et al. Standard-cell based temperature sensor for deep submicron CMOS technologies. (2003) Megjelent: Proceedings of the 9th International Workshop on THERMal INvestigations of ICs and Systems (THERMINIC'03) pp. 157-160
    Egyéb konferenciaközlemény[23902187] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 23902187, Kapcsolat: 23902187
  2. S Lopez-Buedo et al. Thermal testing on reconfigurable computers. (2000) IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS 0740-7475 1558-1918 2168-2356 17 1 84-91
    Folyóiratcikk[23902186] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 23902186, Kapcsolat: 23902186
V. Székely. A New Monolithic Temperature Sensor: the Thermal Feedback Oscillator. (1995) Megjelent: Proceedings of Eurosensors IX and The 8th International Conference on Solid-State Sensors and Actuators (Transducers'95) pp. 124-127, 2607022
Könyvrészlet/Konferenciaközlemény (Könyvrészlet)/Tudományos[2607022]
  1. Donciu C. Virtual stand for testing stepping motors used as incremental encoder. (2014) Megjelent: 13th IMEKO TC4 Symposium on Measurements for Research and Industrial Applications 2004, Held Together with the 9th Workshop on ... pp. 173-176
    Könyvrészlet/Konferenciaközlemény (Könyvrészlet)/Tudományos[26445410] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 26445410, Kapcsolat: 26445410
  2. De Venuto D et al. Low power high-resolution smart temperature sensor for autonomous multi-sensor system. (2012) IEEE SENSORS JOURNAL 1530-437X 12 12 3384-3391
    Folyóiratcikk[23892818] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892818, Kapcsolat: 23892818
  3. De Venuto D et al. Low power smart sensor for accurate temperature measurements. (2011) Megjelent: 4th IEEE International Workshop on Advances in Sensors and Interfaces (IWASI) pp. 71-76
    Könyvrészlet/Konferenciaközlemény (Könyvrészlet)/Tudományos[26445411] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 26445411, Kapcsolat: 26445411
  4. Kashmiri S et al. A thermal-diffusivity-based frequency reference in standard CMOS with an absolute inaccuracy of ± 0.1% from - 55 °c to 125 °c. (2010) IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS 0018-9200 45 12 2510-2520
    Folyóiratcikk[23892817] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892817, Kapcsolat: 23892817
  5. Datta B et al. Low-power and robust on-chip thermal sensing using differential ring oscillators. (2007) Megjelent: 50th Midwest Symposium on Circuits and Systems, MWSCAS 2007 pp. 29-32
    Könyvrészlet/Konferenciaközlemény (Könyvrészlet)/Tudományos[26445412] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 26445412, Kapcsolat: 26445412
  6. V A Koval et al. Precise frequency method of measurement for integrated frequency-output temperature sensors. (1997) Megjelent: Proceedings of the 3rd International Workshop on THERMal INvestigations of ICs and Microstructures (THERMINIC'97) pp. 11-16
    Egyéb konferenciaközlemény[23902190] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 23902190, Kapcsolat: 23892816
  7. Alves Vladimir et al. Thermal monitoring of safety-critical integrated systems. (1996) Megjelent: Proceedings of the 1996 5th Asian Test Symposium, ATS'96 pp. 282-288
    Egyéb konferenciaközlemény/Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény)/Tudományos[26445415] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 26445415, Kapcsolat: 26445415
V Szekely. On-line Thermal Testing of Microstructures. (1995) Megjelent: Proceedings of the 4th Annual Atlantic Test Workshop (ATW'95) pp. 1-9, 2608944
Egyéb konferenciaközlemény/Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény)/Tudományos[2608944]
  1. M Zubert. Application of inverse problem method to the temperature monitoring of ICs. (1996) Megjelent: Proceedings of the 19th National Conference on Circuit Theory and Electronics Circuits (ECCTD'96) pp. 301-305
    Egyéb konferenciaközlemény[23902188] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 23902188, Kapcsolat: 23902188
V Székely. Self-Consistent Electro-Thermal Simulation: Fundamentals and Practice. (1995) Megjelent: Collection of Papers presented at the 1st International Workshop on THERMal INvestigations of ICs and Microstructures (THERMINI... pp. 188-194, 2613534
Egyéb konferenciaközlemény/Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény)/Tudományos[2613534]
  1. M N Sabry. Static and dynamic thermal modeling of ICs. (1999) MICROELECTRONICS JOURNAL 0026-2692 0959-8324 30 11 1085-1091
    Folyóiratcikk[23932436] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23932436, Kapcsolat: 23932436
  2. M N Sabry. Static and dynamic thermal modeling of ICs. (1998) Megjelent: Proceedings of the 4th International Workshop on THERMal INvestigations of ICs and Microstructures (THERMINIC'98) pp. 107-113
    Egyéb konferenciaközlemény[23932431] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23932431, Kapcsolat: 23932431
  3. M N Sabry et al. Realistic and Efficient Simulation of Electro-Thermal Effects in VLSI Circuits. (1997) IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS 1063-8210 5 3 283-289
    Folyóiratcikk[23932432] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23932432, Kapcsolat: 23932432
  4. Wünsche S et al. Microsystem Design Using Simulator Coupling. (1997) Megjelent: Proceedings of the European Design and Test Conference (ED&TC'97) pp. 113-118
    Könyvrészlet/Konferenciaközlemény (Könyvrészlet)/Tudományos[23932434] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23932434, Kapcsolat: 23932434
  5. S Wünsche et al. Electro-Thermal Circuit Simulation Using Simulator Coupling. (1997) IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS 1063-8210 5 3 277-282
    Folyóiratcikk[23932433] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23932433, Kapcsolat: 23932433
  6. M N Sabry et al. Realistic and efficient simulation of electro-thermal effects in VLSI circuits. (1996) Megjelent: Proceedings of the 2nd International Workshop on THERMal INvestigations of ICs and Microstructures (THERMINIC'96) pp. 95-103
    Egyéb konferenciaközlemény[23932438] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23932438, Kapcsolat: 23932438
Csendes A et al. Thermal mapping with liquid crystal method. (1996) MICROELECTRONIC ENGINEERING 0167-9317 31 1-4 281-290, 2606972
Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[2606972]
  1. Ridier Karl et al. Unprecedented switching endurance affords for high-resolution surface temperature mapping using a spin-crossover film. (2020) NATURE COMMUNICATIONS 2041-1723 11 1
    Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[31444249] [Érvényesített]
    Független, Idéző: 31444249, Kapcsolat: 29164751
  2. Zhang Hongjie et al. Two-wavelength thermoreflectance in steady-state thermal imaging. (2019) APPLIED PHYSICS LETTERS 0003-6951 1077-3118 114 15
    Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[31063228] [Érvényesített]
    Független, Idéző: 31063228, Kapcsolat: 28636704
  3. Zhuo Guan-Yu et al. In situ high-resolution thermal microscopy on integrated circuits. (2017) OPTICS EXPRESS 1094-4087 25 18 21548-21558
    Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[26935454] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 26935454, Kapcsolat: 26935454
  4. Bae Ji Yong et al. 3D Defect Localization on Exothermic Faults within Multi-Layered Structures Using Lock-In Thermography: An Experimental and Numerical Approach. (2017) SENSORS 1424-8220 17 10
    Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[27100549] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 27100549, Kapcsolat: 27100549
  5. Kim Dong Uk et al. Quantitative temperature measurement of multi-layered semiconductor devices using spectroscopic thermoreflectance microscopy. (2016) OPTICS EXPRESS 1094-4087 24 13 13906-13916
    Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[26220314] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 26220314, Kapcsolat: 26220314
  6. Kraieva Olena et al. High Spatial Resolution Imaging of Transient Thermal Events Using Materials with Thermal Memory. (2016) SMALL 1613-6810 1613-6829 12 46 6325-6331
    Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[26390355] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 26390355, Kapcsolat: 26390355
  7. Albahrani S M et al. A review of in situ methodologies for studying elastohydrodynamic lubrication. (2016) PROCEEDINGS OF THE INSTITUTION OF MECHANICAL ENGINEERS PART J-JOURNAL OF ENGINEERING TRIBOLOGY 1350-6501 230 1 86-110
    Folyóiratcikk/Összefoglaló cikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[25412386] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 25412386, Kapcsolat: 25412386
  8. Ryu Seon. Surface-Temperature Measurement and Submicron Defect Isolation for Microelectronic Devices Using Thermoreflectance Microscopy. (2015) INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMOPHYSICS 0195-928X 1572-9567 36 5-6 1217-1225
    Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[25412387] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 25412387, Kapcsolat: 25412387
  9. Bontempi A. DC and AC scanning thermal microscopy using micro-thermoelectric probe. (2014) HIGH TEMPERATURES-HIGH PRESSURES 0018-1544 43 4 321-332
    Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)[24569484] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 24569484, Kapcsolat: 24569484
  10. Wu X et al. The material dependence of temperature measurement resolution in thermal scanning electron microscopy. (2013) APPLIED PHYSICS LETTERS 0003-6951 1077-3118 102 11
    Folyóiratcikk[23892074] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892074, Kapcsolat: 23892074
  11. Bontempi A et al. Quantitative thermal microscopy using thermoelectric probe in passive mode. (2013) REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS 0034-6748 1089-7623 84 10
    Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)[24569485] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 24569485, Kapcsolat: 24569485
  12. Mauk MG. Image processing for solar cell analysis, diagnostics and quality assurance inspection. (2013) Megjelent: Image Processing: Concepts, Methodologies, Tools, and Applications pp. 1426-1462
    Könyvrészlet/Könyvfejezet (Könyvrészlet)/Tudományos[26445362] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 26445362, Kapcsolat: 26445362
  13. Le Rouzic J et al. Development of Infrared Microscopy for Measuring Asperity Contact Temperatures. (2013) JOURNAL OF TRIBOLOGY-TRANSACTIONS OF THE ASME 0742-4787 1528-8897 135 2
    Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)[24569487] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 24569487, Kapcsolat: 24569487
  14. Márton C et al. Simulations on Vanadium Dioxide Thin Film as Thermographic Material. (2012) Megjelent: Proceedings of the 18th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'12) pp. 97-100
    Egyéb konferenciaközlemény/Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény)/Tudományos[2687454] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 2687454, Kapcsolat: 23892075
  15. Mauk MG. Image processing for solar cell analysis, diagnostics and quality assurance inspection. (2012) Megjelent: Handbook of Research on Solar Energy Systems and Technologies pp. 338-375
    Könyvrészlet/Könyvfejezet (Könyvrészlet)/Tudományos[26445363] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 26445363, Kapcsolat: 26445363
  16. Wu X et al. A novel nano-scale non-contact temperature measurement technique for crystalline materials. (2012) NANOTECHNOLOGY 0957-4484 1361-6528 23 46
    Folyóiratcikk[23892076] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892076, Kapcsolat: 23892076
  17. Jayaraman B et al. Thermo-mechanical characterization of surface-micromachined microheaters using in-line digital holography. (2010) MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY 0957-0233 1361-6501 21 1
    Folyóiratcikk[23892066] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892066, Kapcsolat: 23892066
  18. Williams SJ et al. Advances and applications on microfluidic velocimetry techniques. (2010) MICROFLUIDICS AND NANOFLUIDICS 1613-4982 8 6 709-726
    Folyóiratcikk[23892064] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892064, Kapcsolat: 23892064
  19. Wang X et al. Power Trace: An Efficient Method for Extracting the Power Dissipation Profile in an IC Chip From Its Temperature Map. (2009) IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS AND PACKAGING TECHNOLOGIES 1521-3331 32 2 309-316
    Folyóiratcikk[23892067] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892067, Kapcsolat: 23892067
  20. Xi Wang. Power Trace: an efficient method for extracking the power dissipation profile in an IC chip from its temperature map. (2009) IEEE Trans. on Component and Packaging Technologies 32 2 309-316
    Folyóiratcikk[24119495] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 24119495, Kapcsolat: 24119495
  21. Gosse C et al. Molecular Probes for Thermometry in Microfluidic Devices. (2009) TOPICS IN APPLIED PHYSICS 0303-4216 1437-0859 118 301-341
    Folyóiratcikk[24119909] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 24119909, Kapcsolat: 23892065
  22. Dabiri D. Digital particle image thermometry/velocimetry: a review. (2009) EXPERIMENTS IN FLUIDS 0723-4864 46 2 191-241
    Folyóiratcikk[23892068] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892068, Kapcsolat: 23892068
  23. Shakouri A et al. Microscale and Nanoscale Thermal Characterization Techniques (Reprinted from Thermal Issues in Emerging Technologies: Theory and Application, January, 2007). (2008) JOURNAL OF ELECTRONIC PACKAGING 1043-7398 1528-9044 130 4
    Folyóiratcikk[23892070] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892070, Kapcsolat: 23892070
  24. Liu WJ et al. Thermography techniques for integrated circuits and semiconductor devices. (2007) SENSOR REVIEW 0260-2288 27 4 298-309
    Folyóiratcikk[23892069] [Érvényesített]
    Független, Idéző: 23892069, Kapcsolat: 23892069
  25. Gillot F et al. On-chip thermal calibration with 8 CB liquid crystal of micro-thermal device. (2007) LAB ON A CHIP 1473-0197 1473-0189 7 11 1600-1602
    Folyóiratcikk[23892062] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892062, Kapcsolat: 23892062
  26. Teyssieux D et al. Near-infrared thermography using a charge-coupled device camera: Application to microsystems. (2007) REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS 0034-6748 1089-7623 78 p. 034902
    Folyóiratcikk[23892061] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892061, Kapcsolat: 23892061
  27. Christofferson J. Microscale and nanoscale thermal characterization techniques. (2007) Megjelent: 2007 International Conference on Thermal Issues in EmergingTechnologies - Theory and Applications pp. 3-9
    Egyéb konferenciaközlemény[23892072] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892072, Kapcsolat: 23892072
  28. Wang X et al. Extraction of power dissipation profile in an IC chip from temperature map. (2007) Megjelent: 23rd IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM'07) pp. 51-56
    Egyéb konferenciaközlemény[23892071] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892071, Kapcsolat: 23892071
  29. Jorez S et al. Low-cost optical instrumentation for thermal characterization of MEMS. (2005) MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY 0957-0233 1361-6501 16 9 1833-1840
    Folyóiratcikk[23892060] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892060, Kapcsolat: 23892060
  30. Litvinenko S et al. Investigation of the solar cell emitter quality by LBIC-like image techniques. (2000) MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B - SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY 0921-5107 71 1-3 238-243
    Folyóiratcikk[23892059] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892059, Kapcsolat: 23892059
  31. Pogany D. Study of thermal effects in GaAs micromachined power sensor microsystems by an optical interferometer technique. (1998) MICROELECTRONICS JOURNAL 0026-2692 0959-8324 29 4-5 191-198
    Folyóiratcikk[23892055] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892055, Kapcsolat: 23892055
  32. J Kölzer et al. Thermal imaging and measurement techniques for electronic materials and devices. (1996) MICROELECTRONIC ENGINEERING 0167-9317 31 1-4 251-270
    Folyóiratcikk[23892063] [Érvényesített]
    Független, Idéző: 23892063, Kapcsolat: 23892063
J M Karam et al. Applied design and analysis of microsystems. (1996) Megjelent: Proceedings of the European Design and Test Conference (ED&TC'96) pp. 528-532, 2613537
Könyvrészlet/Konferenciaközlemény (Könyvrészlet)/Tudományos[2613537]
  1. Pfeiffer A. A modular simulation framework for microfluidic chips. (2005) Megjelent: AIChE Annual Meeting Conference Proceedings pp. 7323-7324
    Egyéb konferenciaközlemény[23932448] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23932448, Kapcsolat: 23932448
  2. Bartlomiej F. Methodology for the Modeling and Simulation of Microsystems. (1998) ISBN:0792383060
    Könyv/Szakkönyv (Könyv)/Tudományos[23932446] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23932446, Kapcsolat: 23932446
  3. Hoffmann Klaus et al. Generation of the HDL-A model of a micromembrane from its finite-element description. (1997) Megjelent: Proceedings of the European Design and Test Conference (ED&TC'97) pp. 108-112
    Könyvrészlet/Konferenciaközlemény (Könyvrészlet)/Tudományos[11400448] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 11400448, Kapcsolat: 23932447
  4. Esteve D. BARMINT Basic Research for Microsystems Integration: final report, project n ° 8173. (1997) ISBN:2854284658
    Könyv/Szakkönyv (Könyv)[24119806] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 24119806, Kapcsolat: 24119806
  5. J Carrabina. Industrial Microsystems on Top of CMOS Design and Process. (1996) Megjelent: Proceedings of SPIE'96 Symposium on Micromachining and Microfabrication pp. 307-318
    Egyéb konferenciaközlemény[23932444] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23932444, Kapcsolat: 23932444
J M Karam et al. Microsystem Design Framework based on Tool Adaptations and Library Developments. (1996) PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING 0277-786X 1996-756X 2880 236-245, 2613545
Folyóiratcikk/Konferenciaközlemény (Folyóiratcikk)/Tudományos[2613545]
  1. D Esteve. BARMINT - Basic Research for Microsystems Integration. (1997) ISBN:2854284658
    Könyv[23892040] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 23892040, Kapcsolat: 23932457
J M Karam et al. Microsystems Modeling at System Level. (1996) Megjelent: Proceedings of the 3rd Asia Pacific Conference on Hardware Description Languages (APCHDL'96) pp. 34-39, 2613547
Egyéb konferenciaközlemény/Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény)/Tudományos[2613547]
  1. Gary K Fedder et al. A hierarchical circuit-level design methodology for microelectromechanical systems. (1999) IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS II - ANALOG AND DIGITAL SIGNAL PROCESSING 1057-7130 46 10 1309-1315
    Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[24574866] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 24574866, Kapcsolat: 24574866
  2. G K Fedder. NODAS 1.3-Nodal Design of Actuators and Sensors. (1998) Megjelent: IEEE/VIUF International Workshop on Behavioural Modeling and Simulation (BMAS'98) pp. 1-8
    Egyéb konferenciaközlemény/Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény)/Tudományos[24574905] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 24574905, Kapcsolat: 24574905
  3. Jan E. Nodal Design of Actuators and Sensors (NODAS). (1998)
    Egyéb/Kutatási jelentés (közzétett) (Egyéb)/Tudományos[24574871] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 24574871, Kapcsolat: 24574871
  4. Mukherjee T. Structured design of microelectromechanical systems. (1997) Megjelent: Proceedings of the 34th Conference on Design Automation (DAC'97) pp. 680-685
    Egyéb konferenciaközlemény[23932458] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23932458, Kapcsolat: 23932458
  5. Oliver Nagler. Efficient design and optimization of MEMS by integrating commercial simulation tools. (1997) Megjelent: 1997 International Conference on Solid State Sensors and Actuators (TRANSDUCERS'97) pp. 1055-1058
    Egyéb konferenciaközlemény/Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény)/Tudományos[24574888] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 24574888, Kapcsolat: 24574888
Székely V et al. Design for thermal testability (DfTT) and a CMOS realization. (1996) SENSORS AND ACTUATORS A-PHYSICAL 0924-4247 55 1 29-33, 2606970
Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[2606970]
  1. Aldrete-Vidrio E et al. Differential Temperature Sensors Fully Compatible With a 0.35-μm CMOS Process. (2007) IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS AND PACKAGING TECHNOLOGIES 1521-3331 30 4 618-626
    Folyóiratcikk[23892410] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892410, Kapcsolat: 23892039
  2. Altet J et al. Dynamic surface temperature measurements in ICs. (2006) PROCEEDINGS OF THE IEEE 0018-9219 94 8 1519-1533
    Folyóiratcikk[23892409] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892409, Kapcsolat: 23892038
  3. Altet J et al. Thermal coupling in integrated circuits: application to thermal testing. (2001) IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS 0018-9200 36 1 81-91
    Folyóiratcikk[23892085] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892085, Kapcsolat: 23892046
  4. Götz A et al. Manufacturing and packaging of sensors for their integration in a vertical MCM microsystem for biomedical applications. (2001) JOURNAL OF MICROELECTROMECHANICAL SYSTEMS 1057-7157 10 4 569-579
    Folyóiratcikk[23892047] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892047, Kapcsolat: 23892047
  5. Bratek P et al. A method of thermal testing of microsystems. (2001) MICROELECTRONICS RELIABILITY 0026-2714 41 11 1877-1887
    Folyóiratcikk[23902194] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23902194, Kapcsolat: 23892045
  6. K Tworus. Estimation of Power Dissipation in Integrated Circuits Using Multipole Expansion Technique. (2000) Megjelent: Proceedings of the 7th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES'00) pp. 341-346
    Egyéb konferenciaközlemény[23892044] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 23892044, Kapcsolat: 23892044
  7. Tworus K. Estimation of power dissipation in ICs using multipole expansion technique. (2000) Megjelent: MIXDES 2000 pp. 341-346
    Egyéb konferenciaközlemény[24119494] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 24119494, Kapcsolat: 24119494
  8. Tworus K et al. Multipole expansion for steady-state temperature computations in integrated circuits. (1999) Megjelent: Proceedings of the 6th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES '99) pp. 313-316
    Könyvrészlet/Konferenciaközlemény (Könyvrészlet)/Tudományos[23892042] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 23892042, Kapcsolat: 23892042
  9. Tworus K. Multipole expansion for steady-state temperature computations in integrated circuits. (1999) Megjelent: MIXDES'99 pp. 313-316
    Egyéb konferenciaközlemény[24119493] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 24119493, Kapcsolat: 24119493
  10. Altet J et al. Differential thermal testing: An approach to its feasibility. (1999) JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS 0923-8174 1573-0727 14 1-2 57-66
    Folyóiratcikk[24029034] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 24029034, Kapcsolat: 23892036
  11. Altet J. Differential thermal testing: an approach to its feasibility. (1998) Megjelent: Proceedings of the IEEE European Test Workshop (ETW'98) pp. 62-66
    Egyéb konferenciaközlemény[23892043] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 23892043, Kapcsolat: 23892043
  12. Altet J. Differential thermal testing: an approach to its feasibility. (1998) Megjelent: IEEE European Test Workshop ETW'98 pp. 62-66
    Egyéb konferenciaközlemény[24119492] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 24119492, Kapcsolat: 24119492
  13. Josep Altet. Acoblaments tèrmics en circuits mixtes: aplicacions al test de circuits integrats. (1998)
    Disszertáció/PhD (Disszertáció)[23892041] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 23892041, Kapcsolat: 23892041
  14. Altet J. Acoblaments tčrmics en circuits mixtes: aplicacions al test de circuits integrats. (1998)
    Disszertáció/Nem besorolt (Disszertáció)/Tudományos[24119491] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 24119491, Kapcsolat: 24119491
  15. Esteve D. BARMINT Basic Research for Microsystems Integration. (1997)
    Könyv/Szakkönyv (Könyv)[24119490] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 24119490, Kapcsolat: 24119490
  16. D Esteve. BARMINT - Basic Research for Microsystems Integration. (1997) ISBN:2854284658
    Könyv[23892040] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 23892040, Kapcsolat: 23892040
Szekely V et al. Test Structure for Thermal Monitoring. (1996) Megjelent: Proceedings of the 1996 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS'96) pp. 111-115, 2607024
Könyvrészlet/Konferenciaközlemény (Könyvrészlet)/Tudományos[2607024]
  1. Syal A et al. CMOS differential and absolute thermal sensors. (2002) JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS 0923-8174 1573-0727 18 3 295-304
    Folyóiratcikk[23892087] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892087, Kapcsolat: 23892820
  2. Josep Altet. Acoblaments tèrmics en circuits mixtes: aplicacions al test de circuits integrats. (1998)
    Disszertáció/PhD (Disszertáció)[23892819] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 23892819, Kapcsolat: 23892819
Székely Vladimír et al. An efficient method for the self-consistent electro-thermal simulation and its integration into a CAD framework. (1996) Megjelent: Proceedings of the European Design and Test Conference (ED&TC'96) p. 604, 29067
Könyvrészlet/Absztrakt / Kivonat (Könyvrészlet)/Tudományos[29067]
  1. A Calimera et al. THERMINATOR: Modeling, Control and Management of Thermal Effects in Electronic Circuits of the Future. (2010) Megjelent: Proceedings of the 16th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'10) pp. 171-176
    Egyéb konferenciaközlemény[23892268] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892268, Kapcsolat: 24129247
  2. Etessam-Yazdani K et al. Investigation of the Impact of Power Granularity on Chip Thermal Modeling Using White Noise Analysis. (2008) IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS AND PACKAGING TECHNOLOGIES 1521-3331 31 1 211-215
    Folyóiratcikk[23892202] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892202, Kapcsolat: 24129246
  3. PULTRONICS Inc. TED software tools for thermal evaluation of integrated circuits: White Paper Version 2.1. (2003)
    Egyéb/Nem besorolt (Egyéb)/Tudományos[25401610] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 25401610, Kapcsolat: 25401608
  4. M N Sabry et al. A lumped transient thermal model for self-heating in MOSFETs. (2001) MICROELECTRONICS JOURNAL 0026-2692 0959-8324 32 10-11 847-853
    Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[23932459] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23932459, Kapcsolat: 11400552
Székely Vladimír. S-THERMANAL: An efficient thermal simulation tool for microsystem elements and MCM's. (1996) Megjelent: Special issue containing selected papers from the International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Microstructures (... pp. 13-20, 29083
Egyéb konferenciaközlemény/Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény)/Tudományos[29083]
  1. S Wünsche et al. Electro-Thermal Circuit Simulation Using Simulator Coupling. (1997) IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS 1063-8210 5 3 277-282
    Folyóiratcikk[23932433] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23932433, Kapcsolat: 11400612
Székely Vladimír et al. Trends in Thermal Management of Microcircuits. (1996) Megjelent: Future trends in microelectronics : reflections on the road to nanotechnology pp. 407-412, 29197
Könyvrészlet/Konferenciaközlemény (Könyvrészlet)/Tudományos[29197]
  1. G Jablonski. Thermal benchmark integrated circuit in BiCMOS technology. (1997) Megjelent: Proceedings of the 3rd International Workshop on THERMal INvestigations of ICs and Microstructures (THERMINIC'97) pp. 34-36
    Egyéb konferenciaközlemény[24129479] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 24129479, Kapcsolat: 24129479
  2. Jablonski Grzegorz et al. Integrated circuit for thermal measurement in BiCMOS technology. (1997) Megjelent: Mixed design of integrated circuits and systems : education of computer aided design of modern devices and ICs pp. 265-270
    Könyvrészlet/Konferenciaközlemény (Könyvrészlet)/Tudományos[24129480] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 24129480, Kapcsolat: 24129480
V Székely et al. Electro-thermal and logi-thermal simulation of VLSI designs. (1996) Megjelent: Proceedings of the 2nd International Workshop on THERMal INvestigations of ICs and Microstructures (THERMINIC'96) pp. 79-88, 2613541
Egyéb konferenciaközlemény/Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény)/Tudományos[2613541]
  1. K Torki et al. IC thermal map from digital and thermal simulations. (2002) Megjelent: Proceedings of the 8th International Workshop on THERMal INvestigations of ICs and Systems (THERMINIC'02) pp. 303-308
    Egyéb konferenciaközlemény[23932449] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23932449, Kapcsolat: 23932449
  2. T S Shelar et al. Electrothermal modeling of MOSFET and its applications for analog circuit simulation,. (2002) Megjelent: Proceedings of the 8th International Workshop on THERMal INvestigations of ICs and Systems (THERMINIC'02) pp. 177-180
    Egyéb konferenciaközlemény[23932450] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23932450, Kapcsolat: 23932450
  3. Syal A et al. CMOS differential and absolute thermal sensors. (2002) JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS 0923-8174 1573-0727 18 3 295-304
    Folyóiratcikk[23892087] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23892087, Kapcsolat: 23932455
  4. Z Junedi et al. Global Modeling and Simulation of System-on-Chip embedding MEMS devices. (2001) Megjelent: 4TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ASIC PROCEEDINGS pp. 666-669
    Könyvrészlet/Konferenciaközlemény (Könyvrészlet)/Tudományos[23932456] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23932456, Kapcsolat: 23932456
  5. S Koziel et al. Application of evolutionary algorithms to VLSI circuits partitioning with reduction of thermal interactions between elements. (1999) Megjelent: Proceedings of the 18th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'99) pp. 354-359
    Egyéb konferenciaközlemény[23932451] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23932451, Kapcsolat: 23932451
  6. A Kos. Thermal modelling and optimisation of power microcircuits: Electrochemical Publications. (1997)
    Egyéb[23932454] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23932454, Kapcsolat: 23932454
2020-11-25 11:40