Gonda V. Prediction of thermo-mechanical integrity of wafer backend processes. (2004) MICROELECTRONICS RELIABILITY 0026-2714 44 12 2011-2017, 2390791
Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[2390791]
  1. Che FX et al. Development of Wafer-Level Warpage and Stress Modeling Methodology and Its Application in Process Optimization for TSV Wafers. (2012) IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS PACKAGING AND MANUFACTURING TECHNOLOGY 2156-3950 2 6 944-955
    Folyóiratcikk[23280598] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280598, Kapcsolat: 23280598
  2. Che F. Wafer Level Warpage Modeling Methodology and Characterization of TSV Wafers. (2011) ELECTRONIC COMPONENTS AND TECHNOLOGY CONFERENCE 0569-5503 Lake Buena Vista 1196-1203
    Folyóiratcikk/Konferenciaközlemény (Folyóiratcikk)/Tudományos[25685231] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 25685231, Kapcsolat: 25685231
  3. Lee CC et al. Fracture prediction of dissimilar thin film materials in Cu/low-k packaging. (2010) JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE: MATERIALS IN ELECTRONICS 0957-4522 1573-482X 21 8 787-795
    Folyóiratcikk[23280599] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280599, Kapcsolat: 23280599
  4. Wang H et al. Nonlinear Dynamics Modeling of Correlated Functional Process Variables for Condition Monitoring in Chemical-Mechanical Planarization. (2009) IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING 0894-6507 22 1 188-195
    Folyóiratcikk[23280600] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280600, Kapcsolat: 23280600
  5. Narasimalu S. Wire bond challenges in low-k devices. (2008) MICROELECTRONICS INTERNATIONAL 1356-5362 25 1 34-40
    Folyóiratcikk[23280601] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280601, Kapcsolat: 23280601
  6. Chang SY et al. Grain size effect on nanomechanical properties and deformation behavior of copper under nanoindentation test. (2007) JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 0021-8979 1089-7550 101 3
    Folyóiratcikk[23280602] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280602, Kapcsolat: 23280602
  7. Chang SY et al. Nanomechanical response and creep behavior of electroless deposited copper films under nanoindentation test. (2006) MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A-STRUCTURAL MATERIALS PROPERTIES MICROSTRUCTURE AND PROCESSING 0921-5093 1873-4936 423 1-2 52-56
    Folyóiratcikk[23280603] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280603, Kapcsolat: 23280603
  8. Zhang J et al. Modeling thermal stresses in 3-D IC interwafer interconnects. (2006) IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING 0894-6507 19 4 437-448
    Folyóiratcikk[23280604] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280604, Kapcsolat: 23280604
  9. Chang SY et al. Deformation behavior of electrolessly deposited ultrafine nanocrystalline copper films under instrumented nanoindentation. (2006) ELECTROCHEMICAL AND SOLID STATE LETTERS 1099-0062 9 4 C73-C76
    Folyóiratcikk[23280605] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280605, Kapcsolat: 23280605
  10. Groothuis S. Computer-Aided Engineering (CAE) applications in semiconductor device manufacturing and reliability. (2005) Megjelent: 2005 IEEE WORKSHOP ON MICROELECTRONICS AND ELECTRON DEVICES pp. 45-48
    Könyvrészlet/Konferenciaközlemény (Könyvrészlet)/Tudományos[25685232] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 25685232, Kapcsolat: 25685232
Gonda V et al. Finite thickness influence on spherical and conical indentation on viscoelastic thin polymer film. (2005) JOURNAL OF ELECTRONIC PACKAGING 1043-7398 1528-9044 127 1 33-37, 2390790
Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[2390790]
  1. Suzuki Ryo et al. In-vivo viscous properties of the heel pad by stress-relaxation experiment based on a spherical indentation. (2017) MEDICAL ENGINEERING & PHYSICS 1350-4533 1873-4030 50 83-88
    Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[27061934] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 27061934, Kapcsolat: 27061934
  2. Johnson PM et al. Effect of Interfacial Adhesion on Viscoelastic Relaxation Processes in Thin Polymer Film Indentation. (2010) ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES 1944-8244 1944-8252 2 7 2108-2115
    Folyóiratcikk[23280607] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280607, Kapcsolat: 23280607
  3. Pelegri AA et al. Nanoindentation on soft film/hard substrate and hard film/soft substrate material systems with finite element analysis. (2008) COMPOSITES SCIENCE AND TECHNOLOGY 0266-3538 68 1 147-155
    Folyóiratcikk[23280608] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280608, Kapcsolat: 23280608
  4. Huang XQ et al. Finite element analysis on nanoindentation with friction contact at the film/substrate interface. (2007) COMPOSITES SCIENCE AND TECHNOLOGY 0266-3538 67 7-8 1311-1319
    Folyóiratcikk[23280610] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280610, Kapcsolat: 23280610
Jansen KMB. State-of-the-art of thermo-mechanical characterization of thin polymer films. (2005) JOURNAL OF ELECTRONIC PACKAGING 1043-7398 1528-9044 127 4 530-536, 2390789
Folyóiratcikk/Összefoglaló cikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[2390789]
  1. Guo F et al. Analysis of vapor pressure and void volume fraction evolution in porous polymers: A micromechanics approach. (2015) INTERNATIONAL JOURNAL OF SOLIDS AND STRUCTURES 0020-7683 66 133-139
    Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[25679783] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 25679783, Kapcsolat: 25679783
  2. Hassarati Rachelle et al. Stiffness Quantification of Conductive Polymers for Bioelectrodes. (2014) JOURNAL OF POLYMER SCIENCE PART B-POLYMER PHYSICS 0887-6266 1099-0488 52 9 666-675
    Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[25679784] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 25679784, Kapcsolat: 25679784
  3. Xu D et al. Bulge Testing Transparent Thin Films with Moir, Deflectometry. (2010) EXPERIMENTAL MECHANICS 0014-4851 50 2 217-225
    Folyóiratcikk[23280613] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280613, Kapcsolat: 23280613
  4. Boodhoo MV et al. Relative Hardness of Fat Crystal Networks Using Force Displacement Curves. (2009) INTERNATIONAL JOURNAL OF FOOD PROPERTIES 1094-2912 1532-2386 12 1 129-144
    Folyóiratcikk[23280614] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280614, Kapcsolat: 23280614
  5. Lang U et al. Piezoresistive properties of PEDO:PSS. (2009) MICROELECTRONIC ENGINEERING 0167-9317 86 3 330-334
    Folyóiratcikk[23280615] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280615, Kapcsolat: 23280615
  6. Petitdidier C. Mechanical Dynamical Analysis of ultra thin resist films for microlithography applications - art. no. 65910I. (2007) PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING 0277-786X 1996-756X 6591 Maspalomas I5910-I5910
    Folyóiratcikk/Konferenciaközlemény (Folyóiratcikk)/Tudományos[25679785] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 25679785, Kapcsolat: 25679785
  7. Withers JR et al. Nanomechanical measurements with AFM in the elastic limit. (2006) ADVANCES IN COLLOID AND INTERFACE SCIENCE 0001-8686 120 1-3 57-67
    Folyóiratcikk[23280616] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280616, Kapcsolat: 23280616
Gonda V et al. Micro-mechanical testing of SiLK by nanoindentation and substrate curvature techniques. (2007) MICROELECTRONICS RELIABILITY 0026-2714 47 2-3 248-251, 2390787
Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[2390787]
  1. Chen Lisa et al. Temperature controlled tensile testing of individual nanowires. (2014) REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS 0034-6748 1089-7623 85 1
    Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[25667718] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 25667718, Kapcsolat: 25667718
  2. Novoa Fernando et al. Environmental mechanisms of debonding in photovoltaic backsheets. (2014) SOLAR ENERGY MATERIALS AND SOLAR CELLS 0927-0248 120 87-93
    Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[25667719] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 25667719, Kapcsolat: 25667719
  3. Dun AH et al. Elongation rate measurements of nanofilms by microbump method induced by laser pulse. (2011) APPLIED SURFACE SCIENCE 0169-4332 1873-5584 257 24 10674-10678
    Folyóiratcikk[23280619] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280619, Kapcsolat: 23280619
  4. Zhao XY. Synthesis and Characterization of a Polyquinoline Derivative Thin Film with a Low Dielectric Constant. (2010) ACTA PHYSICO-CHIMICA SINICA 1000-6818 26 4 1164-1170
    Folyóiratcikk[23280620] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280620, Kapcsolat: 23280620
  5. Zhao XY et al. Review of polymer materials with low dielectric constant. (2010) POLYMER INTERNATIONAL 0959-8103 59 5 597-606
    Folyóiratcikk[23280621] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280621, Kapcsolat: 23280621
  6. Chang RC et al. Dynamic mechanical properties of photo resist thin films. (2007) JOURNAL OF MECHANICAL SCIENCE AND TECHNOLOGY 1738-494X 1976-3824 21 10 1739-1744
    Folyóiratcikk[23280622] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280622, Kapcsolat: 23280622
Nanver LK. Improved RF Devices for Future Adaptive Wireless Systems Using Two-Sided Contacting and AlN Cooling. (2009) IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS 0018-9200 44 9 2322-2338, 2390786
Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[2390786]
  1. Jovanovic Vladimir et al. Silicon-Based Technology for Integrated Waveguides and mm-Wave Systems. (2015) IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES 0018-9383 62 10 3153-3159
    Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[25653595] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 25653595, Kapcsolat: 25653595
  2. Qi L et al. Lateral-Transistor Test Structures for Evaluating the Effectiveness of Surface Doping Techniques. (2012) IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING 0894-6507 25 4 581-588
    Folyóiratcikk[23280624] [Jóváhagyott]
    Független, Idéző: 23280624, Kapcsolat: 23280624
  3. d'Alessandro V et al. Analysis of Electrothermal Effects in Bipolar Differential Pairs. (2011) IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES 0018-9383 58 4 966-978
    Folyóiratcikk[23280626] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280626, Kapcsolat: 23280626
  4. La Spina L et al. Thermal Design of Multifinger Bipolar Transistors. (2010) IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES 0018-9383 57 8 1789-1800
    Folyóiratcikk[23280627] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280627, Kapcsolat: 23280627
  5. Russo S et al. Influence of layout design and on-wafer heatspreaders on the thermal behavior of fully-isolated bipolar transistors: Part I - Static analysis. (2010) SOLID-STATE ELECTRONICS 0038-1101 54 8 745-753
    Folyóiratcikk[23280628] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280628, Kapcsolat: 23280628
  6. Popadic M et al. C-V profiling of ultra-shallow junctions using step-like background profiles. (2010) SOLID-STATE ELECTRONICS 0038-1101 54 9 890-896
    Folyóiratcikk[23280629] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 23280629, Kapcsolat: 23280629
Gonda V. Thermal budget considerations for excimer laser annealing of implanted dopants. (2010) JOURNAL OF OPTOELECTRONICS AND ADVANCED MATERIALS 1454-4164 12 3 466-469, 2390785
Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[2390785]
  1. Cui GuoDong. Numerical Investigation of Temperature Field Induced by Dual Wavelength Lasers in Sub-microsecond Laser Annealing Technology for Insulated Gate Bipolar Transistor. (2015) PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING 0277-786X 1996-756X 9532 Jiading
    Folyóiratcikk/Konferenciaközlemény (Folyóiratcikk)/Tudományos[25647268] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 25647268, Kapcsolat: 25647268
Gonda Viktor et al. A könyöksajtolás elmélete és gyakorlata. (2012) BÁNYÁSZATI ÉS KOHÁSZATI LAPOK-KOHÁSZAT 0005-5670 145 1 20-36, 2142415
Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[2142415]
  1. Kardos Ferenc et al. Könyöksajtoló kísérletek kereskedelmi tisztaságú alumínium és réz mintákon. (2014) Megjelent: XXVI. Hőkezelő és anyagtudomány a gépgyártásban országos konferencia és szakkiállítás külföldi résztvevőkkel pp. 145-150
    Könyvrészlet/Konferenciaközlemény (Könyvrészlet)/Tudományos[24459479] [Admin láttamozott]
    Független, Idéző: 24459479, Kapcsolat: 24459479
B Jóni et al. X-ray line profile analysis of equal channel angular pressing processed Cu. (2014) Megjelent: 6th International Conference on Nanomaterials by Severe Plastic Deformation, NanoSPD 2014 pp. 1-6, 2807265
Egyéb konferenciaközlemény/Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény)/Tudományos[2807265]
  1. Miyamoto Hiroyuki et al. Corrosion Behavior of Severely Deformed Pure and Single-Phase Materials. (2019) MATERIALS TRANSACTIONS (2001-) 1345-9678 1347-5320 60 7 1243-1255
    Folyóiratcikk/Szakcikk (Folyóiratcikk)/Tudományos[31079478] [Érvényesített]
    Független, Idéző: 31079478, Kapcsolat: 28663694
2020-07-04 08:52