Paul Pfaff. Optically enhanced holographic interferometric testing methods for the development and evaluation of semiconductor devices, materials, wafers, and for monitoring all phases of development and manufacture. (2013) 8,462,350 Amerikai Egyesült Államok
[Idézéskapcsolat:23450804]

Rekordtípus
Citation
MTMT azonosító
23450804
Státusz
Nyilvános
Nyilvános
Igen
Aktív cédulák
0
Régi időbélyeg
2014-05-10T20:11:14.000+0000
Törölt
Nem
Régi azonosító
13450804
Utolsó módosítás
2014-05-10T20:11:14.000+0000
Létrehozás dátuma
2013-11-14T14:40:00.000+0000
Közlemény
Bányász I et al. Holography and holographic interferometry at 780 nm in a photopolymer material. (1997) JOURNAL DE PHYSIQUE III. APPLIED PHYSICS MATERIALS SCIENCE FLUIDS PLASMA AND INSTRUMENTATION 1155-4320 7 1 211-222
Közlemény MTMT azonosítója
1230885
Kapcsolódó cikk
Paul Pfaff. Optically enhanced holographic interferometric testing methods for the development and evaluation of semiconductor devices, materials, wafers, and for monitoring all phases of development and manufacture. (2013) 8,462,350 Amerikai Egyesült Államok
Idézőközlemény MTMT azonosítója
23450804
Eredet
kézi felvitel
Független
Igen
Független OK
Link
/api/citation/23450804
Címke
Paul Pfaff. Optically enhanced holographic interferometric testing methods for the development and evaluation of semiconductor devices, materials, wafers, and for monitoring all phases of development and manufacture. (2013) 8,462,350 Amerikai Egyesült Államok
2020-09-27 13:07