Paul Pfaff. Methods for optically enhanced holographic interferometric testing for test and evaluation of semiconductor devices and materials. (2012) US Patent 8139228 Amerikai Egyesült Államok
[Idézéskapcsolat:22948262]

Rekordtípus
Citation
MTMT azonosító
22948262
Státusz
Nyilvános
Nyilvános
Igen
Aktív cédulák
0
Régi időbélyeg
2018-09-14T10:05:07.000+0000
Törölt
Nem
Régi azonosító
12948262
Utolsó módosítás
2018-09-14T10:05:07.000+0000
Létrehozás dátuma
2013-02-12T12:38:51.000+0000
Közlemény
Bányász I et al. Holography and holographic interferometry at 780 nm in a photopolymer material. (1997) JOURNAL DE PHYSIQUE III. APPLIED PHYSICS MATERIALS SCIENCE FLUIDS PLASMA AND INSTRUMENTATION 1155-4320 7 1 211-222
Közlemény MTMT azonosítója
1230885
Kapcsolódó cikk
Paul Pfaff. Methods for optically enhanced holographic interferometric testing for test and evaluation of semiconductor devices and materials. (2012) US Patent 8139228 Amerikai Egyesült Államok
Idézőközlemény MTMT azonosítója
22948262
Eredet
kézi felvitel
Független
Igen
Független OK
Link
/api/citation/22948262
Címke
Paul Pfaff. Methods for optically enhanced holographic interferometric testing for test and evaluation of semiconductor devices and materials. (2012) US Patent 8139228 Amerikai Egyesült Államok
2020-09-22 10:42